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仪表网 产业报道】近日，上海市计量测试技术研究院机械所雷李华博士带领精密几何量创新团队，联合浙江大学、同济大学、中国测试技术研究院等9家高校研究所及知名企业共同申报的“车规级 IGBT 功率半导体模块检测关键技术 NQI 集成应用示范”项目顺利获得国家重点研发计划项目立项。该项目是上海市计量测试技术研究院第一个成功获批的国家重点研发计划“国家质量基础设施(NQI)体系”应用示范类项目，为上海市计量测试技术研究院服务国家战略产业及成果转化开辟新途径。
项目组拟针对IGBT芯片几何特征测量中
标准物质研究滞后、关键量检测设备大量依赖进口、标准规范缺失等“卡脖子”问题，聚焦功率半导体模块“测量-封装-检测”全产业链NQI关键技术，重点开展“测量溯源-基础研究-关键技术-计量校准-集成示范”系列研究。该项目以提升IGBT芯片几何尺寸测量、模块封装测试及可靠性评估能力为目标，为进一步实现高端功率器件的进口替代提供理论和技术依据。
国家重点研发计划为我国国民经济、社会发展主要领域提供持续性支撑及引领。该项目的成功获批将推动上海市计量测试技术研究院在IGBT/SiC功率半导体模块领域关键技术研究创新，提升上海市计量测试技术研究院在高端测量技术、设备研发等方面的能力，促进相关科研成果转化与应用。上海市计量测试技术研究院机械所将继续以服务国家战略需求为己任，瞄准科技发展前沿，立足科技创新，不断加强有组织科研，为国家、行业高质量发展添砖加瓦。
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